1.参与或负责芯片及模块级别的DFT方案制定，并完成主流的DFT技术实现，包括但不限于扫描链（Scan）插入、内建自测试（MBIST）、边界扫描（Boundary Scan）以及自动测试向量生成（ATPG）。需要确保测试覆盖率达标
2.负责DFT模式下的功能验证，解决仿真过程中出现的问题。生成DFT相关的时序约束（SDC），并与前后端团队协作，完成DFT模式的时序收敛（Timing Closure）以及功耗、压降等相关分析
3.负责生成ATE（自动测试设备）所需的测试向量（Pattern），并参与芯片回片后的测试调试（Debug）工作，分析测试失败（Failure）的原因，协助提升芯片良率。支持量产测试并协助进行故障诊断
4.遵循行业标准（如IEEE1149.1, IEEE1500等），并与前端设计、验证、后端实现以及测试工程师等紧密协作，确保DFT流程顺利集成到整个芯片设计流程中