职位详情
系统级产品失效分析工程师 | FAE(J15474)
面议
长鑫存储
合肥
3-5年
本科
09-22
工作地址

长鑫存储技术有限公司

职位描述
岗位职责:
1. 负责DRAM产品(Component,DIMM/模组)系统测试的失效分析与良率提升
2. 根据不同产品以及客户测试条件,设计并定位失效样品的失效场景,并整理归纳相关测试数据
3. 提供逻辑完善的电性失效分析报告(包括客退RMA)并推动测试覆盖率提升,生产以及工程问题分析与改善
4. 实验室5S维护,失效分析实验室的能力建设。根据新产品及时导入新的失效分析设备和分析手法
5. 测试效率提升,支持客户特殊定制化需求

任职要求:
1. 本科及以上学历,电子,电气,半导体材料,通信,测控以及自动化相关专业;微电子、电子信息、电子工程等相关专业优先
2. 具备半导体产品测试经验(CP,Burn-in,FT,SLT),DRAM或者DIMM/Module/模组产品测试经验优先
3. 熟悉ARM(MTK,Qualcomm)或X86(Intel,AMD)架构或具有相关工作经验,具备SOC DRAM模块开发经验尤佳
4. 了解内存框架模块和内存控制方法,有一定主板BIOS或SOC固件开发经验优先
5. 熟悉DIMM或PCB主板设计验证,有相关工作经验者优先
6. 具有较强的逻辑思维和独立解决问题能力
7. 具有良好人际沟通能力、主动性及团队合作精神

以担保或任何理由索取财物,扣押证照,均涉嫌违法,请提高警惕

立即申请