1.负责光刻胶等半导体薄膜材料的性能检测与表征分析，重点负责使用椭偏仪进行膜厚和光学常数的精确测量。
2.操作和维护椭偏仪等薄膜检测设备，确保设备状态良好与数据准确可靠。
3.建立、优化与验证椭偏仪测量模型，以提高对不同材料体系测量的精确度。
4.对测试数据进行分析、统计与解读，撰写详细规范的检测与分析报告，及时反馈异常数据。
5.协助研发与工艺部门进行新材料开发与工艺优化，提供关键的薄膜特性数据支持。
6.参与维护实验室质量体系，编写和更新设备操作规范。

任职要求：

1.本科及以上学历，物理学、光学工程、材料科学、微电子等相关专业。
2.2年以上半导体、光学镀膜或材料检测领域工作经验，具备熟练操作椭偏仪进行测量的实际经验。
3.具备椭偏仪数据建模和数据分析能力，有建立光学模型、拟合经验者优先。
4.熟悉半导体薄膜材料特性，了解基本制备工艺，有光刻胶检测经验者更佳。
5.具备良好的数据敏感度、逻辑分析能力和报告撰写能力。
6.工作严谨细致，有强烈的责任心和良好的团队沟通意识。