1.职位概述：

负责半导体测试产线在制品（WIP）实时监控和周期时间（Cycle Time）优化，通过动态库存管理、呆滞WIP清理和流程分析，提升产线周转效率，降低库存成本，确保测试资源高效利用；
2. 产线WIP实时监控与瓶颈分析：
实时监控各测试阶段（RDBI、ATE、MVP、SMT、SLT）的WIP水平，建立动态库存模型，识别积压工序；
开发自动化看板（Power BI/Excel），每日/每周输出WIP趋势报告，预警异常积压（如某测试站WIP超阈值）；
与MES/ERP系统对接，确保数据实时性；
3. 呆滞WIP清理与异常处理：
主导呆滞批次清理计划，分析滞留原因（如设备故障、测试参数异常、等待工程确认等），制定优先级处理方案；
协调测试、生产、工程团队推动滞留批次释放（如重测、降级或报废决策）；
推动安全库存标准更新，减少冗余WIP；
4. 测试流程Cycle Time分解与优化：
拆解测试全流程CT（如Pre-test→测试→分类→包装），量化各环节耗时，识别延迟点。

任职资格：

1.专业背景：工业工程、供应链管理、电子工程或相关专业，1年以上半导体/制造业WIP或生产计划经验；
2.数据分析：熟练使用Excel（数据透视表、VLOOKUP）、Power BI，能处理产线数据（WIP/CT/OEE）；
3.系统操作：熟悉MES/ERP系统（如SAP）中的WIP模块，了解半导体测试流程；
4.沟通协调：能跨部门推动问题解决（如与测试工程师、设备团队协作）。