1. 负责半导体及显示行业工业缺陷检测相关的算法开发，调试，优化及技术文档撰写；
2. 对已有算法进行检测功能优化与维护；
3. 利用深度学习分类、分割等主流模型，结合传统图像处理技术，进行项目应用；
4. 熟悉缺陷产生的工艺及缺陷特征，可适应现场出差进行算法上线与稳定运行；
5. 熟悉常规的半导体缺陷检测算法，熟悉算法整体架构开发流程，能够从0-1设计并开发算法。 1. 熟练使用C/C++，具有底层算法开发与维护能力，熟悉opencv等算法库，熟练掌握数字图像处理算法，具有机器学习与深度学习相关经验。
2. 针对机器视觉检测行业疑难问题，有解决方案及解决能力者优先；
3. 对设备国产化有浓厚的兴趣，可接收现场出差;
4. 能够清晰表达自己的想法，并有效地与其他团队成员交流;
5. 硕士研究生及以上学历，电子信息、数学、物理、计算机等专业，图像处理、机器视觉、深度学习等研究方向。